滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求 可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求，最小可達(dá)0.2mm

x射線熒光測(cè)厚儀 技術(shù)指標(biāo)： ★ 型號(hào)：BOWMAN_BA 100

膜厚測(cè)量?jī)x 膜厚測(cè)試儀 金屬鍍層測(cè)厚儀，指檢測(cè)金屬樣品上鍍層厚度的儀器。 膜厚儀采用二次熒光法,它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后

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X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

能量色散X射線熒光光譜儀EDX6600應(yīng)用領(lǐng)域：合金分析，鍍層測(cè)量，貴金屬分析，RoHS，無(wú)鹵檢測(cè)，玩具安全，考古應(yīng)用，環(huán)境保護(hù)等。ROHS指令，EN71玩具指令

X射野熒光標(biāo)尺,射線檢測(cè)直讀尺

布魯克X射線熒光光譜儀榮獲Pittcon Today卓越銅獎(jiǎng)

出具CNAS認(rèn)可證書(shū)，符合ISO資質(zhì)要求，符合客戶(hù)驗(yàn)廠、審廠、證書(shū)資質(zhì)等要求，權(quán)威高效，是儀器校驗(yàn)、儀器校準(zhǔn)、儀表校正等的專(zhuān)業(yè)第三方校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室，國(guó)內(nèi)各地區(qū)都可提供客戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)服務(wù)。

● 緊湊式設(shè)計(jì)，改善效率和精度 ● 高分辨半導(dǎo)體固態(tài)探測(cè)器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度 ● 更短的預(yù)熱時(shí)間，更長(zhǎng)壽命的光管 ● 多種規(guī)格一次濾波器和準(zhǔn)直器 ● 可變焦距適應(yīng)復(fù)雜樣品的測(cè)量需求

X-射線熒光鍍層分析測(cè)厚儀

CMI900 X射線熒光測(cè)厚儀

X-射線熒光分析測(cè)厚儀

供應(yīng)日本精工X射線熒光射線測(cè)厚儀